Dr. J Consulting bietet ausgewählte AFM-Sonden für Forschung und industrielle Anwendungen.
Unser besonderer Schwerpunkt liegt auf High-Aspect-Ratio-AFM-Sonden mit konischer Spitze. Diese Sonden sind besonders interessant für Anwendungen, bei denen tiefe, schmale oder komplex strukturierte Oberflächen präzise untersucht werden sollen.
Konische Spitze mit hohem AspektverhältnisGeeignet für anspruchsvolle Anwendungen mit tiefen und schmalen Strukturen.Bei Strukturen mit einem hohen Verhältnis von Tiefe zu Breite kann die Geometrie der AFM-Spitze entscheidend für eine zuverlässige Abbildung sein.
Unsere High-Aspect-Ratio-Sonden sind für solche anspruchsvollen Oberflächenstrukturen ausgelegt.
Für Proben mit stark strukturierten oder schwer zugänglichen Oberflächen kann eine konische Spitze Vorteile bei der Abbildung bieten.
Für die Untersuchung kleiner Strukturen und feiner Oberflächenmerkmale bieten wir Sonden für unterschiedliche AFM-Anwendungen.
Je nach Messverfahren, Probe und gewünschter Information können unterschiedliche Sondeneigenschaften entscheidend sein. Wir unterstützen Sie dabei, eine geeignete Sonde für Ihre konkrete Anwendung zu finden.
Im Vergleich zu vielen herkömmlichen pyramidenförmigen AFM-Spitzen verfügen unsere Sonden über eine konische Spitzengeometrie mit hohem Aspektverhältnis.
Damit sind sie insbesondere für Anwendungen interessant, bei denen herkömmliche Sondengeometrien an ihre Grenzen kommen können.
Die Auswahl einer geeigneten AFM-Sonde hängt von der Probe, dem Messverfahren und den Anforderungen an die Abbildung ab.
Teilen Sie uns Ihre Anwendung, Ihr AFM-System und die wichtigsten Anforderungen mit. Wir prüfen gemeinsam mit Ihnen, welche Sonde geeignet sein könnte.
